ผสมผสานหลายผลิตภัณฑ์ บริการครบวงจร
การควบคุมคุณภาพสูง เติมเต็มความต้องการของลูกค้า

ขาย
ขออ้าง - Email

Select Language

English
French
German
Italian
Russian
Spanish
Portuguese
Dutch
Greek
Japanese
Korean
Arabic
Hindi
Turkish
Indonesian
Vietnamese
Thai
Bengali
Persian
Polish

บ้าน
สินค้า
เกี่ยวกับเรา
ทัวร์โรงงาน
ควบคุมคุณภาพ
ติดต่อเรา
ขออ้าง

Categories: หมวดหมู่ทั้งหมด

ส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์คริสตัล

ไดโอดอิเล็กทรอนิกส์และทรานซิสเตอร์

ไมโครคอนโทรลเลอร์ยูนิต MCU

การจัดเก็บข้อมูลหน่วยความจำแฟลช

ขั้วต่อบอร์ด PCB

วงจรรวม SMD

โมดูลอิเล็กทรอนิกส์ดิจิตอล

MOSFET กำลังสูง

ออปโตอิเล็กทรอนิกส์ LED

ส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์แบบพาสซีฟ

Fpc วงจรพิมพ์ยืดหยุ่น

บริการประกอบ PCB

บอร์ดแสดงผลดิจิตอลอิเล็กทรอนิกส์

รีเลย์ไฟสัญญาณ

สวิตช์ DIP SMD

เครื่องมือสำหรับผู้พัฒนา

สายไฟ UL

เซนเซอร์ส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์

สลิปแหวนแอสเซมบลี

บ้าน ผลิตภัณฑ์ไมโครคอนโทรลเลอร์ยูนิต MCU

GD32F103C8T6 GD NA ส่วนประกอบการกระจายต้นฉบับทดสอบชิปวงจรรวม IC

ผลิตภัณฑ์ทั้งหมด

ส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์คริสตัล (67)

ไดโอดอิเล็กทรอนิกส์และทรานซิสเตอร์ (26)

ไมโครคอนโทรลเลอร์ยูนิต MCU (33)

การจัดเก็บข้อมูลหน่วยความจำแฟลช (20)

ขั้วต่อบอร์ด PCB (21)

วงจรรวม SMD (159)

โมดูลอิเล็กทรอนิกส์ดิจิตอล (6)

MOSFET กำลังสูง (2119)

ออปโตอิเล็กทรอนิกส์ LED (21)

ส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์แบบพาสซีฟ (21)

Fpc วงจรพิมพ์ยืดหยุ่น (6)

บริการประกอบ PCB (2)

บอร์ดแสดงผลดิจิตอลอิเล็กทรอนิกส์ (6)

รีเลย์ไฟสัญญาณ (12)

สวิตช์ DIP SMD (25)

เครื่องมือสำหรับผู้พัฒนา (6)

สายไฟ UL (2)

เซนเซอร์ส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ (20)

สลิปแหวนแอสเซมบลี (13)

สนทนาออนไลน์ตอนนี้ฉัน

GD32F103C8T6 GD NA ส่วนประกอบการกระจายต้นฉบับทดสอบชิปวงจรรวม IC

ภาพใหญ่ : GD32F103C8T6 GD NA ส่วนประกอบการกระจายต้นฉบับทดสอบชิปวงจรรวม IC ราคาถูกที่สุด

รายละเอียดสินค้า:

สถานที่กำเนิด:	จีน
ชื่อแบรนด์:	GD
หมายเลขรุ่น:	GD32F103C8T6

การชำระเงิน:

จำนวนสั่งซื้อขั้นต่ำ:	จำนวนแพ็คเกจ
ราคา:	contact sales for updated price
รายละเอียดการบรรจุ:	เทปและรีล
เวลาการส่งมอบ:	2 สัปดาห์
เงื่อนไขการชำระเงิน:	ที/ที
สามารถในการผลิต:	1,000+